本文將詳細介紹電源測試中的白盒測試，包括輔助電源測試、驅動(dòng)電路的測試、功率半導體器件的應力測試、磁性器件的測試、DC/DC反饋環(huán)測試、PFC性能測試等。

1、  輔助電源測試

測試說(shuō)明：

電源中輔助電源有重要意義，電源模塊的正常工作靠輔助電源來(lái)保障，輔助電源工作要比主電路要求更可靠，因為即使在輸入電壓超限的條件下，輔助電源還要正常工作，以實(shí)現正常的保護邏輯，而且功率器件的驅動(dòng)，控制芯片的工作都要靠輔助電源來(lái)保障，因此，對輔助電源的要求是：無(wú)論在動(dòng)態(tài)的情況下還是在靜態(tài)的情況下，必須穩定可靠，輸出電壓穩定，以滿(mǎn)足控制和通訊電路的要求。測試工作中要充分關(guān)注輔助電源。

測試方法：

輔助電源要關(guān)注以下幾個(gè)問(wèn)題：

A、 啟動(dòng)電阻設計是否合理，限流電阻（輔助電源的輸入與高壓直流母線(xiàn)排串聯(lián)的電阻）設計是否合理；

B、 靜態(tài)的情況下，輔助電源的電壓是否在全電壓、負載內；

C、 大動(dòng)態(tài)的情況下，輔助電源是否正常；

D、 啟動(dòng)過(guò)程中輸出電壓是否出現過(guò)沖，384X Isence端及驅動(dòng)波形是否異常；

E、  輸出電壓波形監測；

F、  開(kāi)關(guān)管的電應力測試；

G、 輔助電源的溫度應力測試；

H、 芯片的工作主要參數，如工作電壓、功耗等。

針對這些問(wèn)題，需要測試相應項目：

A、 啟動(dòng)電阻和限流電阻測試

啟動(dòng)電阻的功率降額必須滿(mǎn)足設計要求，計算功率的公式為：P=(Vmax-V1)/R,其中Vmax為輔助電源在各種情況下最大的輸入電壓，V1為輔助電源控制芯片正常工作電壓，計算出來(lái)的功率不能超過(guò)選用的啟動(dòng)電阻的功率，同時(shí)啟動(dòng)電阻的溫升必須滿(mǎn)足降額要求。在最高的環(huán)境溫度、輔助電源最高的輸入電壓Vmax下，正常工作時(shí)，啟動(dòng)電阻的最高溫度不超過(guò)120℃（15℃的降額，135℃-15℃=120℃），如果在常溫下測試，測試溫升需要轉換到最高工作環(huán)境溫度。

限流電阻的功率也要滿(mǎn)足降額的要求，用示波器測試正常情況下，滿(mǎn)載開(kāi)機，滿(mǎn)載關(guān)機情況下電阻兩端的電壓波形，通過(guò)電壓波形，測試出電阻兩端的電源有效值，根據有效值計算電阻的功率，要求功率在開(kāi)機和關(guān)機以及正常情況下要滿(mǎn)足降額要求。

B、 靜態(tài)的情況下，輸出電壓范圍測試

測試模塊輸入電壓分別為Vinmin，Vinnom，Vinmax和輸出Iomin，Ionom，Iomax,輸出限流點(diǎn)，輸出深度限流狀態(tài)下的輔助電源每一路輸出電壓，要求每一路輸出電壓在每一種情況下都保持穩定，而且能夠滿(mǎn)足控制回路和通訊回路的可靠工作要求（注意：Vinmin為輔助電源剛剛開(kāi)始工作的電壓，Vinmax為模塊輸入過(guò)壓保護后的電壓，過(guò)壓保護和欠壓保護以后，模塊都能正常工作）。

C、 動(dòng)態(tài)的情況下，輔助電源輸出電壓范圍：

用AC SOURCE調節模塊的輸入電壓和輸出負載同時(shí)跳變（輸入電壓在最高電壓和最低輸入電壓之間跳變，跳變時(shí)間為50ms，輸出從空載到滿(mǎn)載跳變，跳變時(shí)間為5ms，tr和tf設置為20us對應1A），在這種情況下，測試輔助電源各路輸出電壓，要求每一路輸出電壓都能保持穩定，而且能夠滿(mǎn)足控制回路和通訊回路的可靠工作要求。

D、 關(guān)鍵點(diǎn)波形測試：

分別在輸入過(guò)壓點(diǎn)-5V、欠壓點(diǎn)+5V啟動(dòng)時(shí)測試輸出電壓波形，3844 Isence端及開(kāi)關(guān)管驅動(dòng)波形，監測是否出現輸出電壓過(guò)沖、開(kāi)關(guān)管過(guò)流及開(kāi)關(guān)管驅動(dòng)端波形異常等情況。同時(shí)在各種狀態(tài)的情況下，各個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)的波形測試。

E、  輸出電壓紋波測試：

輸出額定線(xiàn)性負載情況下，用測試電壓紋波的方法測試輸出電壓波形，其紋波P-P值應小于5%輸出電壓。

判斷標準：

以上測試項目作為檢測輔助電源性能的測試。啟動(dòng)電阻溫升正常，未出現開(kāi)關(guān)管電流及驅動(dòng)波形異常，在工作范圍內輔助電源電壓正常，在異常電壓輸入范圍輔助電源正常，合格；否則不合格。

2、  驅動(dòng)電路的測試

測試說(shuō)明：

功率器件的驅動(dòng)技術(shù)是電源可靠性的重要保障，好的驅動(dòng)方式能夠實(shí)現有效的開(kāi)通和關(guān)斷，高效率，低的EMI干擾，快速實(shí)現功率器件的保護等功能，測試中應對功率管驅動(dòng)進(jìn)行測試，為了防止由于探頭引起的影響，測試中用應采用差分隔離探頭，并注意以下問(wèn)題：

A、 驅動(dòng)電路分析；

B、 驅動(dòng)電壓；

C、 驅動(dòng)波形；

D、 瞬態(tài)情況下驅動(dòng)波形；

E、  驅動(dòng)芯片的電壓，如起機過(guò)程中的芯片供電電壓等。

測試方法：

（1）       驅動(dòng)電路分析

審核驅動(dòng)電路方式，無(wú)論變壓器隔離驅動(dòng)和集成IC驅動(dòng)，驅動(dòng)電阻應滿(mǎn)足推薦要求，如果采用加速電容或快速關(guān)斷方式時(shí)應評估其作用，負壓關(guān)斷時(shí)應確認其影響，一般情況下GS應有穩壓管，分析驅動(dòng)電路，確認電路設計合理性。

（2）       驅動(dòng)電壓

目前，公司的大部分的開(kāi)關(guān)管都是使用MOSFET或IGBT，MOSFET和IGBT的驅動(dòng)都是使用電壓方式，高的驅動(dòng)電壓會(huì )擊穿柵極，測試在空載、半載、滿(mǎn)載、限流狀態(tài)、空載滿(mǎn)載跳變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變，空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高，從最高電壓到最低電壓跳變條件下的驅動(dòng)波形，要保證驅動(dòng)電壓低于規定電壓，一般峰值應小于20V，同時(shí)注意驅動(dòng)電壓要滿(mǎn)足飽和驅動(dòng)。

（3）       驅動(dòng)波形

測試在空載、輕載、半載、滿(mǎn)載、限流狀態(tài)、空載滿(mǎn)載跳變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變，空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高，從最高電圧到最低電壓跳變條件下的驅動(dòng)波形，波形的上升和下降沿應平滑，且滿(mǎn)足效率和EMI要求，開(kāi)通中不應有下跌，關(guān)斷后不會(huì )出現尖沖，死區時(shí)間滿(mǎn)足設計要求。

對比PWM芯片輸出波形和驅動(dòng)波形，確認驅動(dòng)波形和PWM輸出波形一致。

（4）       驅動(dòng)回路

功率器件（MOSFET和IGBT）驅動(dòng)電源要求低的阻抗特性，驅動(dòng)回路面積盡可能小，驅動(dòng)線(xiàn)盡量短，且驅動(dòng)回路必須與功率回路分開(kāi)。

（5）       瞬態(tài)狀態(tài)下的波形

在瞬態(tài)條件下，如開(kāi)關(guān)機、輸出突加負載、突減負載，由限流態(tài)到穩壓態(tài)的轉換，從穩壓到限流態(tài)的轉換，輸出短路，短路開(kāi)機，輸出短路放開(kāi)的情況下驅動(dòng)正常。由保護到恢復的過(guò)程中，驅動(dòng)正常，波形的上升和下降沿應平滑，開(kāi)通中不應由下跌，關(guān)斷后不會(huì )出現尖沖，死區時(shí)間滿(mǎn)足設計要求，驅動(dòng)波形不應出現震蕩現象。

判定標準：

符合測試說(shuō)明，合格；否則不合格。

（6）       主控制芯片供電電壓的測試

用示波器測試主要的控制芯片的供電電壓，捕捉模塊上電過(guò)程、關(guān)機的過(guò)程以及正常工作情況下芯片供電電壓的波形，芯片供電電壓必須滿(mǎn)足芯片資料的要求，同時(shí)最好工作在芯片資料推薦的工作電壓下，任何情況都不能出現超過(guò)芯片工作電壓范圍的電壓芯片供電。

3、  功率半導體器件的應力測試

測試說(shuō)明：

功率半導體器件主要包括：DCDC的主功率管、輸出整流二極管、PFC的主功率管、PFC的整流二極管、PFC的跨接二極管等。這些功率半導體器件的正確使用是電源可靠性的重要保證，為保證功率器件的合理使用，需要考慮合理的電流、電壓降額和結溫降額，故測試應在以下幾個(gè)方面注意：

A、 滿(mǎn)足電壓降額要求：

B、 滿(mǎn)足電流降額要求；

C、 滿(mǎn)足溫度降額要求

測試方法：

A、 測試功率半導體器件在最?lèi)毫訔l件下的Vds電壓波形，確定最高電壓和最大尖峰電壓。由于Vds的電壓比較高，而且最大的電壓尖峰的頻率能夠達到30-40MHz,故一般的測試時(shí)，電壓尖峰小于300V的，可采用一般的示波器原配探頭，當電壓尖峰大于300V時(shí)，測試以高壓無(wú)源探頭的測試結果為準，測試的波形一般也不會(huì )失真。對于有源高壓探頭，因為貸款較窄，一般為20MHz,容易失真，不建議使用。

對于電壓應力的測試，主要測試在動(dòng)態(tài)情況下的電壓應力，具體的測試條件如下：

（1）       輸入電壓為最高電壓，分別測試輸出空載、滿(mǎn)載、限流狀態(tài)、空載滿(mǎn)載跳變、空載到限流、空載到深度限流，空載到短路情況下，器件的電壓應力。改變輸入電壓，在最低輸入電壓和額定輸入電壓下重新以上的測試。記錄測試的最大應力，記錄超標的電壓波形。

（2）       輸入電壓在最大電壓和最下電壓之間跳變分別測試輸出空載、滿(mǎn)載、限流狀態(tài)、空載滿(mǎn)載跳變、空載到限流、空載到深度限流，空載到短路情況下，器件的電壓應力。

（3）       模擬系統上運行的情況測試下，在系統下，當模塊處于浮充狀態(tài)，監控使模塊變?yōu)榫?，這時(shí)由于模塊電壓上升速度不一致，導致電壓上升較快的模塊瞬態(tài)承受過(guò)高的功率，同時(shí)模塊又沒(méi)法短路回縮，這時(shí)模塊的應力比較大，肯可能會(huì )導致器件應力超標。具體的模擬方法：如測試25A時(shí)，用100A的模擬和25A模塊并聯(lián)，然后帶100A的負載，調節100A模塊的輸出電壓為43A，25A模塊的電壓為42V，這時(shí)25A模塊沒(méi)法帶載輸出，突然調節25A模塊的電壓為58V，這時(shí)25A模塊電壓上升，從而瞬時(shí)帶100A的負載，測試這時(shí)的管子電壓應力。

B、 電流應力測試

測試功率器件在最?lèi)毫訔l件下的Ids電流波形，確定最高工作電流和最大尖峰電流，具體的測試條件如下：

（1）       輸入電壓最低電壓，輸出電壓為最大，分別測試輸出滿(mǎn)載、限流、空載滿(mǎn)載跳變、空載到限流、空載到深度限流，空載到短路情況下，器件的電流應力。

（2）       輸入電壓載最大電壓和最小電壓之間跳變，分別測試輸出滿(mǎn)載、限流、空載滿(mǎn)載跳變、滿(mǎn)載到限流、空載到深度限流，空載到短路情況下，器件的電流應力。

具體可根據實(shí)際使用電路分析和測試，分別求出使用的最大額定電流。

C、 溫度應力

分別測試功率器件的最高溫升，溫升應該滿(mǎn)足降額要求。測試最高溫度下器件的殼溫是最直接的判據；作為替代方法可以測試常溫下的溫升△T，則器件的最高溫升為：

Tcasemax=Tenvmax+△T              Tjmax=Tcasemax+P*Rth

Tcasemax:最高殼溫；Tenvmax:最高環(huán)境溫度；Tjmax:最高結溫；P：器件的功耗；Rth：從結到殼的熱阻

測試時(shí)，溫度測試必須在最高的環(huán)境溫度下測試。

測試的條件為：輸入溫最低的輸入電壓，輸出為最大功率用多點(diǎn)溫度測試儀測試各個(gè)功率器件的溫升，同時(shí)打印溫度曲線(xiàn)，直到溫度曲線(xiàn)為平滑曲線(xiàn)為止。

同時(shí)必須測試風(fēng)扇損壞時(shí)，在最?lèi)毫忧闆r下的溫度應力，也必須滿(mǎn)足降額要求。

判斷標準：

（1）       對于電壓應力，在各種條件下，滿(mǎn)足測試的最大Vds小于器件的額定工作電壓，合格；如果測試的最大Vds大于器件的額定工作電壓，項目組能夠出具體器件認證器件合格的《器件超額使用報告》，合格；否則不合格。

（2）       對于電流應力，在各種條件下，滿(mǎn)足測試的最大電流小于器件的額定工作電流，合格；如果測試的最大電流大于器件的額定工作電流，項目組能夠出具體器件認證器件合格的《器件超額使用報告》，合格；否則不合格。

（3）       對于溫度應力，必須由15℃的降額，也就是說(shuō)，在最高的環(huán)境溫度下測試，器件的表面溫度必須小于（器件的額定結溫-15℃-P*Rth）,一般P*Rth取15℃，符合上述說(shuō)明，合格；否則不合格。

4、  磁性器件的測試

測試說(shuō)明：

電路中磁性元件主要在輸入共模電感、PFC電感、變壓器、濾波電感、輸出共模電感、驅動(dòng)變壓器、諧振電感等處使用，起著(zhù)EMI濾波及能量傳遞等作用，評價(jià)磁性元件應用是否恰當主要關(guān)注以下幾個(gè)方面：

A、 是否存在飽和現象

B、 溫升是否滿(mǎn)足要求，磁性溫升是因為鐵損和銅損造成。

常見(jiàn)的磁性材料有：鐵氧體、坡莫合金、非晶態(tài)合金等，根據其特性，分別應用在不同的場(chǎng)合。

正確的設計才能保證磁性元件應有的合理，由于隨溫度的變化磁芯的特性有較大的變化，最次最?lèi)毫拥臈l件下的驗證是必要的。

測試方法：

（1）       輸入和輸出共模電感

一般不會(huì )存在飽和問(wèn)題，其主要作用是實(shí)現EMI要求，同時(shí)有抑制輸入的共模串擾的作用，其考慮主要是良好的絕緣，在要求頻段內的電感量，分步電容小，溫升滿(mǎn)足要求。前三點(diǎn)由EMC測試保證，溫升需要測試，測試常溫下最大電流條件下的溫升△T，以衡量設計的合理性。

（2）       PFC電感

PFC電感在功率回路中起能量傳遞的作用，雖然一般PFC控制芯片具有限流作用，但是電感的飽和降引起嚴重溫升和輸入電流波形畸變，因此需測試最?lèi)毫訔l件下的工作情況。

A、 測試最低電壓輸入，最大功率輸出時(shí)的PFC電感電流波形，電流波形不會(huì )出現非正常的上翹，即不會(huì )飽和。

B、 降輸入電壓調整為在欠壓點(diǎn)+5V、過(guò)壓點(diǎn)-5V之間跳變，輸出調整為最大線(xiàn)性負載時(shí)，測試PFC電感電流波形，電流波形不會(huì )出現非正常的上翹，即不會(huì )飽和。同時(shí)，需要在最低輸入電壓時(shí)分別測試輸出滿(mǎn)載、限流、空載滿(mǎn)載跳變、空載到限流、空載到深度限流，電感電流的波形，判斷是否能夠滿(mǎn)足要求。

C、 在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試常溫下的溫升△T，應滿(mǎn)足溫升要求。

D、 在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試最高工作溫度下的溫升△T，與常溫比較無(wú)太大差異，且磁心溫度不會(huì )超標。

（3）       變壓器

隨電路拓撲不同，變壓器的要求也不同，不考慮集成磁情況，一般雙極性變壓器，單端正激類(lèi)變壓器，單端反激類(lèi)變壓器類(lèi)型，且與具體采用的復位技術(shù)有關(guān)。

變壓器的飽和溫升問(wèn)題是值得注意的問(wèn)題，可以從以下方面考慮：

A、 變壓器最大輸入電流情況下的電流波形不應出現異常的上翹。

B、 將輸入電壓調整為在欠壓點(diǎn)+5V、過(guò)壓點(diǎn)-5V之間跳變，輸出調整為最大線(xiàn)性負載、空載之間跳變，測試變壓器的電流波形，電流波形不會(huì )出現非正常的上翹，激即不會(huì )飽和。同時(shí)，需要在最低輸入電壓時(shí)分別測試輸出滿(mǎn)載、限流、空載滿(mǎn)載跳變、空載到限流、空載到深度限流，電感電流的波形，判斷是否能夠滿(mǎn)足要求。

C、 在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試常溫下的溫升△T，應滿(mǎn)足溫升要求。

D、 在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試最高工作溫度下的溫升△T，與常溫比較無(wú)太大昌邑，且磁心溫度不會(huì )超標。

（4）       輸出濾波電感

輸出濾波電感工作在直流狀態(tài)下，電感量的大小影響主電路的工作穩定性和特性。

輸出濾波電感要求在最?lèi)毫拥那闆r下不出現飽和現象，溫升滿(mǎn)足要求。

A、 電感中流過(guò)最大電流情況下的電流波形不應出現異常的上翹。

B、 在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試常溫下的溫升△T，應滿(mǎn)足溫升要求。

C、 在最低輸入電壓，最大輸出功率情況下，測試最高工作溫度下的溫升△T，與常溫比較無(wú)太大差異，且磁心溫度不會(huì )超標。

判斷標準：

（1）       測試中電感或變壓器中電流在最?lèi)毫訝顩r下不會(huì )出現飽和；

（2）       常溫下的磁性元件溫升和最高工作溫度下的溫升現象；

（3）       換算到最高溫度及最?lèi)毫虞敵鰻顟B(tài)下磁性元件及其線(xiàn)包上的表面溫度不超過(guò)安規的規定。對于絕緣等級A(105度)，任何情況下，表面溫度不超過(guò)90度；對于絕緣等級B（130度），任何情況下，表面溫度不能超過(guò)110度；對于絕緣等級F（155度），任何情況下，表面溫度不能超過(guò)135度；對于絕緣等級H（180度），任何情況下，表面溫度不能超過(guò)150度。

（4）       磁性元件內部的溫升不能超過(guò)《器件認證降額規范》要求的降額。

5、  DC/DC反饋環(huán)測試

測試說(shuō)明：

每種DC/DC主電路拓撲都有其典型的反饋校正網(wǎng)絡(luò )結構，合適的校正網(wǎng)絡(luò )不但可以得到穩定的靜態(tài)性能，而且可以獲得良好的動(dòng)態(tài)特性，通過(guò)測試和調整可以獲得滿(mǎn)意的校正網(wǎng)絡(luò )。在閉回路下測得的系統開(kāi)環(huán)傳遞函數，可以反應系統的穩定性，以及在不穩定的情況之下的調試趨勢。由于溫度對環(huán)路參數會(huì )導致一定的影響，故除了進(jìn)行常溫下的環(huán)路測試以外，還必須進(jìn)行高、低溫和濕度下進(jìn)行環(huán)路測試。

6、  PFC性能測試

測試說(shuō)明：

APFC技術(shù)隨著(zhù)對電流諧波的要求將日益應用廣泛。公司目前主要應用UC3854和MC33368兩種芯片，其中UC3854為電流連續的平均電流型，MC33368為臨界電流型，輸入電壓范圍較小，功率也較小。

PFC中要考慮的問(wèn)題主要有以下幾個(gè)方面：

A、 額定輸入，額定輸出狀態(tài)下的諧波能否滿(mǎn)足標準要求；

B、 驅動(dòng)是否正常；

C、 電感是否滿(mǎn)足要求；

D、 電流波形細節的觀(guān)察；

E、  輸入電壓及諧波的適應性；

F、  輸入電壓的中斷，跌落和緩慢變化的適應性；

G、 輸入電壓尖峰，缺口和畸變的適應性；

H、 功率器件使用的合理性；

I、   PFC環(huán)路設計的合理性；

J、   輸入電壓跳變，輸出負載跳變；

K、  瞬態(tài)高壓輸入。

測試方法：

（1）       額定輸入、額定輸出情況下的諧波測試

輸入電壓諧波滿(mǎn)足要求時(shí)，使用功率分析儀測試額定輸入額定輸出條件下輸入電流諧波是否滿(mǎn)足IEC1000-3-2要求。

（2）       驅動(dòng)電路的測試

見(jiàn)規范驅動(dòng)電路分析及其波形測試。

（3）       磁性元件測試

見(jiàn)規范磁性元件測試。

（4）       電流波形細節觀(guān)察

電流波形細節觀(guān)察能夠發(fā)現設計的不合理，使用HP4149A示波器，用電流槍測試輸入電流波形，展開(kāi)觀(guān)察正常情況下的電流波形，不應出現異常的脈沖寬度變化。在輸入諧波及電壓中斷、跌落和緩慢變化時(shí)，電流不會(huì )出現異常，PFC電壓正常，功率器件電流和電壓耐量符合要求；輸入電壓尖峰、缺口和畸變時(shí)，PFC電壓正常，功率器件電流和電壓耐量符合要求。

（5）       輸入電壓諧波的適應性

A、 輸入電壓頻率30Hz時(shí)，PFC工作無(wú)異常，能穩定運行；

B、 在3次諧波條件下，PFC穩定運行，電流波形無(wú)異?；?；

C、 在輸入電壓為最高和最低時(shí)，A，B條件下PFC能穩定運行；

D、 輸入THD《40%（包括3次、5次、7次、9次）時(shí)在輸入電壓為最高和最低時(shí)PFC能穩定運行；

E、  輸入電壓從最高到最低緩慢變化，中斷和跳變時(shí)，PFC能穩定工作；

（6）       輸入電壓的中斷，跌落和緩慢變化的適用性

A、 額定輸入條件下，輸入電壓的中斷、跌落和緩慢變化時(shí)，PFC輸出電壓及輸入電流是否正常；

B、 輸入電壓在最低、最高的中斷、跌落，以及從最低到最高的緩慢變化和跳變，PFC能穩定工作。

（7）       輸入電壓尖峰、缺口和畸變的適應性

A、 額定輸入時(shí)，小于峰值1.5倍電壓尖峰（每周期≤3個(gè)，從0值算起，《2ms）,100%的電壓缺口（每周期≤3個(gè)，《2ms）,PFC工作正常；

B、 輸入電壓最高和最低時(shí)，小于峰值1.5倍電壓尖峰（每周期≤3個(gè)，從0值算起，《2ms），100%的電壓缺口（每周期≤3個(gè)，《2ms）,PFC工作正常。

（8）       功率器件使用的合理性

見(jiàn)功率器件應力測試。

（9）       PFC環(huán)路設計的合理性

A、 電路分析

PFC控制有自己的特征，是一個(gè)雙環(huán)控制系統，其設計有相應特征，對比采用電路和典型，分析設計的合理性。

B、 反饋環(huán)測試見(jiàn)DC/DC的環(huán)路測試

C、 動(dòng)態(tài)響應測試

PFC輸出電壓接高壓電子負載：

Ⅰ、作25%-75%的動(dòng)態(tài)響應，輸出電壓變壓《5%；

Ⅱ、100%突加負載和100%卸載試驗，輸出電壓變化《10%；

Ⅲ、輸出額定負載，輸入在最大電壓和最小電壓之間跳變，PFC不應出現保護現象。

（10）   輸入電壓跳變，輸出負載跳變的適應性

將輸入電壓調整為在欠壓點(diǎn)+5V過(guò)壓點(diǎn)-5V之間跳變，輸出調整在最大線(xiàn)性負載、空載之間跳變。

在上述條件下，應能穩定運行，不出現損壞或其他不正?，F象，合格；否則不合格。若出現損壞情況，記錄故障問(wèn)題，以提供分析損壞原因的依據。

（11）   瞬態(tài)高壓輸入

A、 額定電壓輸入，用雙蹤示波器測試輸入電壓波形和過(guò)壓保護信號，輸入電壓從220V跳變?yōu)?00V，從示波器上讀出過(guò)壓保護前300V的周期數n，作為以下試驗的依據。

B、 輸入額定電壓，帶最大線(xiàn)性負載運行，在輸入上疊加300V的電壓跳變，疊加的周期數為（n-1），疊加頻率為1次/3分鐘，共運行2小時(shí)。

在上述條件下，應能夠穩定運行，不出現損壞或其他不正?，F象，合格；否則不合格。

判定標準：

符合測試說(shuō)明，合格；否則不合格。