目前市面上有多種老化測試系統實(shí)現方法，除了老化系統生產(chǎn)廠(chǎng)商制造的通用型產(chǎn)品外，半導體廠(chǎng)商也在內部開(kāi)發(fā)了一些供他們自己使用的此類(lèi)系統。大多數系統都采用計算機作主機，用于數據采集和電路基本控制，而一些非計算機系統只能用LED作為狀態(tài)指示器，需要人工來(lái)收集數據。為了能對老化板上的每一器件作獨立測試，必須要在老化系統控制下將每個(gè)器件與其它器件進(jìn)行典型隔離。內存件非常適合于這種場(chǎng)合，因為他們被設計成按簇方式使用并帶有多路選通訊號，而邏輯器件則可能無(wú)法使用選通訊號，這使得在老化系統中設計通用邏輯測試會(huì )更難一些。因此針對不同器件類(lèi)型存在不同的邏輯老化系統是很正常的。

老化測試系統可歸為兩大類(lèi)：邏輯器件和內存。邏輯器件測試系統又可分為兩類(lèi)：平行和串行；同樣內存測試系統也可分為兩類(lèi)：非易失性和易失性。

邏輯器件老化測試

邏輯器件老化測試是兩類(lèi)系統中難度最大的，這是因為邏輯產(chǎn)品具有多功能特性，而且器件上可能還沒(méi)有選通訊號引腳。為使一種老化測試系統適應所有類(lèi)型的邏輯器件，必須要有大量的輸入輸出引線(xiàn)，這樣系統才能生成多引腳器件通常所需的多種不同信號。老化系統還要有一個(gè)驅動(dòng)板，作為每個(gè)信號通路的引腳驅動(dòng)器，它一般采用較大的驅動(dòng)電流以克服老化板的負載特性。

輸出信號要確保能夠對需作老化的任何器件類(lèi)型進(jìn)行處理。如果老化板加載有問(wèn)題，可以將其分隔成兩個(gè)或更多的信號區，但是這需要將驅動(dòng)板上的信號線(xiàn)數量增加一倍。大多數平行輸出信號利用專(zhuān)用邏輯、預編程EPROM或可重編程及可下載SRAM產(chǎn)生，用SRAM的好處是可利用計算機重復編程而使老化系統適用于多種產(chǎn)品。邏輯器件老化測試主要有兩種實(shí)現方法：平行和串行，這指的是系統的輸入或監測方式。一般來(lái)說(shuō)所有邏輯器件測試系統都用平行方式把大量信號傳給器件，但用這種方式進(jìn)行監測卻不能講老化板上的每一個(gè)器件分離出來(lái)。

平行測試法

平行測試是在老化過(guò)程中進(jìn)行器件測試最快的方法，這是因為有多條信號線(xiàn)連在器件的輸入輸出端，使數據傳輸量達到最大，I/O線(xiàn)的輸入端由系統測試部分控制。平行測試有三種基本方式：各器件單選、單引腳信號返回和多引腳信號返回。

串行測試法

串行測試比平時(shí)測試作業(yè)容易一些，但是速度要慢很多。除了每個(gè)器件的串行信號返回線(xiàn)，老化板上的每個(gè)器件通常都并聯(lián)在一起。該方法用于有一定處理功能并可藉由一條信號返回線(xiàn)反映各種狀態(tài)的器件。測試時(shí)傳送的數據必須進(jìn)行譯碼，因此老化板上應有數據處理系統。

RS-232C或同等協(xié)議

一種串行監測方法是在老化板上采用全雙工RS-232C通訊協(xié)議，所有器件的其它支持信號都并聯(lián)在一起。RS-232C發(fā)送端通常也連到所有器件上，但同時(shí)也支持老化板區域分隔以進(jìn)行多路再使用傳輸。每個(gè)器件都將信號返回到驅動(dòng)板上的一個(gè)RS-232C接收端，該端口在驅動(dòng)板上可以多路再使用。驅動(dòng)電路向所有器件傳送信號，然后對器件的RxD線(xiàn)路進(jìn)行監控，每個(gè)器件都會(huì )被宣導，系統則將得到的數據與預留值進(jìn)行比較。這種測試系統通常要在驅動(dòng)板上使用微處理器，以便能進(jìn)行RS-232C通訊及作為故障數據緩沖。

邊界掃描

邏輯器件老化的最新趨勢是采用IEEE1149.1規定的方法。該方法也稱(chēng)為ITAG或邊界掃描測試，它采用五線(xiàn)制（TCK、TDO、TDI、TMS及TRST）電子協(xié)議，可以和平行測試法相媲美。采用這種方法時(shí)，JTAG測試端口和整個(gè)系統必須要設計到器件的內部。器件上用于JTAG測試的電路屬于專(zhuān)用測試口，用來(lái)對器件進(jìn)行測試，即使器件裝在用戶(hù)終端系統上并已開(kāi)始以后，該測試口還可以使用。一般而言，JTAG埠采用很長(cháng)的串聯(lián)緩存器鏈，可以訪(fǎng)問(wèn)到所有的內部節點(diǎn)。每個(gè)緩存器映像器件的某一功能或特性，于是，訪(fǎng)問(wèn)期間的某種狀態(tài)只需將該緩存器的狀態(tài)數據串行移位至輸出端即可。采用同樣技術(shù)可完成對器件的編程，只不過(guò)數據是藉由JTAG端口串行移位到器件內部。IEEE1149.1的說(shuō)明里詳細闡述了JATG端口的作業(yè)。

內存老化

內存老化和測試的線(xiàn)路實(shí)現起來(lái)相對簡(jiǎn)單一些，所有器件藉由統一方式寫(xiě)入，然后單獨選中每個(gè)器件，將其存入的數據讀出并與原來(lái)的值對照。由于具有控制和數據采集軟件以及故障數據評估報告算法，所以?xún)却胬匣瘻y試對生產(chǎn)商非常有用。

大多數內存件支持多個(gè)選通引腳，因而老化測試系統采用簇方式讀回數據。某些系統具有很寬的數據總線(xiàn)，每一簇可同時(shí)讀取多個(gè)器件，再由計算機主機或類(lèi)似的機器對器件進(jìn)行劃分。增加老化板上的平行信號數量可提高速度，減少同一條平行信號線(xiàn)所連器件數，并且降低板子和器件的負載特性。

易失性?xún)却妫―RAM和SRAM）

易失性?xún)却鏈y試起來(lái)是最簡(jiǎn)單的，因為它無(wú)需特殊算法或時(shí)序就可進(jìn)行多次擦寫(xiě)。一般是所有器件先同時(shí)寫(xiě)入，然后輪流選中每個(gè)器件，讀回數據并進(jìn)行比較。由于在老化時(shí)可重復進(jìn)行慢速的刷新測試，因此DRAM老化測試能夠為后側制程節省大量時(shí)間。刷新測試要求先將數據寫(xiě)入內存，再等待一段時(shí)間使有缺陷的儲存單元放電，然后從內存中讀回數據，找出有缺陷的儲存單元。將這部分測試放入老化意味著(zhù)老化后的測試制程不必再進(jìn)行這種很費時(shí)的檢測，從而節省了時(shí)間。

非易失性?xún)却妫‥PROM和EEPROOM）

非易失性?xún)却鏈y試起來(lái)比較困難，這是因為在寫(xiě)入之前必須先將里面的內容擦除，這樣使得系統算法更困難一些，通常還必須使用特殊電壓來(lái)進(jìn)行擦拭。不過(guò)其測試方法基本上是相同的：把數據寫(xiě)入內存再用更復雜的算法將其讀回。