電子工程師都知道，電路的故障類(lèi)型較多，產(chǎn)生故障的原因也各有不同，因此排除故障的方法也不一樣。當電路發(fā)生故障時(shí)，根據故障現象，通過(guò)檢查、測量，分析故障產(chǎn)生的原因并確定故障的部位，找到發(fā)生故障的元器件的過(guò)程。

一般比較簡(jiǎn)單的電路，其故障原因往往也比較簡(jiǎn)單，故障的分析與定位較容易；而較為復雜的電路，其故障往往也較為復雜，故障原因的分析與定位相對也就要困難一些。

一、直接觀(guān)察法

所謂直接觀(guān)察法是指不借助于任何的儀器設備，直接觀(guān)察待查電路的表面來(lái)發(fā)現問(wèn)題、尋找故障的方法，一般分為靜態(tài)觀(guān)察和通電檢查兩種，其中的靜態(tài)觀(guān)察包括如下幾方面內容。

1）觀(guān)察印制及元器件表面是否有燒焦的印跡，連線(xiàn)及元器件是否有脫落、斷裂等現象發(fā)生。

2）觀(guān)察儀器使用情況。儀器類(lèi)型選擇是否合適，功能、量程的選用有無(wú)差錯，共地連接的處理是否妥善等。首選排除外部故障，再進(jìn)行電路本身的觀(guān)察。

3）觀(guān)察電路供電情況。電源的電壓值和極性是否符合要求，電源是否已確實(shí)接入了電路等。

4）觀(guān)察元器件安裝情況。電解電容的極性、二極管和三極管的引線(xiàn)端子、的引線(xiàn)端子有無(wú)接錯、漏接、互碰等情況，安裝位置是否合理，對于擾源有無(wú)屏蔽措施等。

5）觀(guān)察布線(xiàn)情況。輸入和輸出線(xiàn)、強電和弱點(diǎn)線(xiàn)、交流和直流線(xiàn)等是否違反布線(xiàn)原則。

靜態(tài)觀(guān)察后可進(jìn)行通電檢查。接通電源后，觀(guān)察元器件有無(wú)發(fā)燙、冒煙等情況，變壓器有無(wú)焦味或發(fā)熱及異常聲響。

直接觀(guān)察法適用于對故障進(jìn)行初步檢查，可以發(fā)現一些較明細的故障。

二、儀器測試法

1）斷電測試法

是在電路斷電條件下，利用萬(wàn)用表歐姆檔測量電路或元器件電阻值，借以判斷故障的方法。

如檢查電路中連線(xiàn)、焊點(diǎn)及熔絲等是否斷路，測量電阻值、電容器漏電、電感器的通斷，檢查半導體器件的好壞等。

測試時(shí)，為了避免相關(guān)支路的影響，被測元器件的一端一般應與電路斷開(kāi)，同時(shí)，為了保護元器件，不要使用高阻擋和低阻擋，以防止高電壓或大電流損壞電路中半導體器件的PN結。

2）帶電測試法

是一種在電路帶電條件下，借助于儀器測量電路中各點(diǎn)靜態(tài)電壓值或電壓波形等，并進(jìn)行理論分析，尋找故障所在部位的方法。

如檢查晶體管靜態(tài)工作點(diǎn)是否正常，集成器件的靜態(tài)參數是否符合要求，數字電路的邏輯關(guān)系是否正確等。

3）信號尋跡法

是根據需要在電路輸入端加入符合要求的信號，按照信號的流程從前級到后級，用示波器或電壓表等儀器逐級檢查信號在電路內各部分黃子健傳輸的情況，分析ID安路的功能是否正常，從而判斷故障所在部位。

通常應在電路靜態(tài)工作點(diǎn)處于正常的條件下使用這種方法。

4）分割測試法

對于一些有反饋的環(huán)形電路，它們各級的工作情況互有牽連，這時(shí)可以采用分割環(huán)路的方法，將反饋環(huán)去掉，然后逐級檢查，可以更快的查出故障部位。

對自激振蕩現象也可以用這種方法檢查。

5）對比法

懷疑某一電路存在問(wèn)題時(shí)，可找一個(gè)相同的正常電路進(jìn)行比對，將兩者的狀態(tài)、參數進(jìn)行逐項對比，很快就可以找到電路中不正常的參數，進(jìn)而分析出故障原因并查找到故障點(diǎn)。

6）替代法

有時(shí)故障比較隱蔽，不能很快找到，需要進(jìn)一步檢查，這時(shí)可用已調試好的單元電路或組件代替有疑問(wèn)的單元電路，以此來(lái)判斷是否出在此單元電路。

在確定了有問(wèn)題的單元電路后，還可以在該單元電路中采用局部替代法，用確認良好的元器件將懷疑有問(wèn)題的元器件替代下來(lái)，逐步縮小故障的懷疑范圍，最終找到故障點(diǎn)。

深圳市安拓森儀器儀表有限公司是一家致力于電源自動(dòng)老化測試設備研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售和服務(wù)的高新技術(shù)企業(yè)。主要產(chǎn)品包括：無(wú)線(xiàn)充電老化架、充電樁測試系統、移動(dòng)電源測試系統、LED電源測試系統、充電器自動(dòng)測試系統、適配器測試系統、快充測試系統、LED老化架、開(kāi)關(guān)電源測試系統、快充測試系統等