開(kāi)關(guān)電源測試系統適用于A(yíng)C/DC Power Supply及DC/DC Convertor之測試應用41項標準測試功能擴充性強，可輕易整合其它具標準化介面之測試儀器，測試速度快且效率高，較傳統ATS速度快約3-4倍，開(kāi)放式系統平臺，使用者可依需求自行編輯測試步驟標準化儀控介面語(yǔ)言及簡(jiǎn)單易學(xué)圖形化操作環(huán)境(Windows 95/98/NT)提供報表設計、統計分析能力。

開(kāi)關(guān)電源測試系統就是針對傳統ATE的缺陷及各種開(kāi)關(guān)電源實(shí)際應用需求而設計的自動(dòng)化測試系統，符合研發(fā)設計、生產(chǎn)檢測、品質(zhì)控制等之應用，其主要特性如下：

效率高

采用同步平行之測試架構較一般傳統ATS速度快約3-4倍。對各組輸出做同步平行測試，比一般傳統測試系統快約3倍。一般標準的測試程式，包含DC Voltage、OVP、OCP等25項。 系統穩定度高

Chroma自行研發(fā)之交流電源供應器，Stability和Reliability極佳，Load Regulation小于0.02% 電子負載 由Mosfet構成，各種參數和電流大小、Slew Rate、周期、起動(dòng)點(diǎn)等全部可由使用者根據實(shí)際應用條件來(lái)設定。 開(kāi)關(guān)電源測試系統由各組開(kāi)關(guān)電源分析儀和擴充量測單元對各組輸出做同步測試，結果非常穩定。

準確度高

可以完全根據SMPS應用特性而模擬電流負載變化的真正狀態(tài)，確保測試結果的可信度。 -百分之百模擬各種輸入狀態(tài)，如開(kāi)機角度控制、輸入電源干擾之各種現象，提供最正確之測試狀況。 DC電壓，使用14 Bit ADC，測到小數點(diǎn)第三位，準確度0.02%+0.02%FS。 -NOISE電壓、Differential Mode輸入，并有8段Low Pass Filter供選擇使用，解析度達1%+1%FS。 時(shí)間，使用24 Bit Counter，解析度1uS，準確度10uS。

擴充性強

AC/DC，DC/DC可由同一測試程式完成，硬體不須更動(dòng)，Modular系統架構，具最靈活的擴充性。 輸出電壓可測到200V，負載電流可并聯(lián)擴充，動(dòng)態(tài)負載達125KHz等。 系統可測到12組輸出。 開(kāi)關(guān)電源測試系統軟體可擴充至AC/AC，DC/DC等各種SPS的測試。 透過(guò)Built-in的6組Relay和16Bit的TTL控制信號可與其他儀器設備連線(xiàn)作業(yè)。 透過(guò)10組Ext Measurement，可測至PCB內的AC和DC電壓模擬In-Circuit Test。

統計分析能力

測試結果統計分析能力，并產(chǎn)生分析圖表，以即時(shí)提供制程偏差警告。 系統程式人性化，操作簡(jiǎn)單易學(xué)。 組立式系統，維修容易。

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